3506 C測(cè)試儀
品牌：日本日置HIOKI
型號(hào)：3506
簡(jiǎn)介：C測(cè)試儀3506對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試，能以恒定電壓測(cè)量大容量的多層陶瓷電容，C 、(tanδ), Q項(xiàng)目測(cè)試，反復(fù)測(cè)量精度更高，最適合生產(chǎn)線，校正維修功能，減低由環(huán)境的溫度變
化影響，測(cè)量導(dǎo)線的過(guò)長(zhǎng)引起的阻抗變化，阻抗補(bǔ)正功能，比測(cè)儀的設(shè)定值和測(cè)定值的同步顯示。
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3505 C測(cè)試儀
品牌：日本日置HIOKI
型號(hào)：3505
簡(jiǎn)介：C測(cè)試儀3505對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試，反復(fù)測(cè)量精度更高，最適合生產(chǎn)線，C、
(tanδ), Q項(xiàng)目測(cè)試，能以恒定電壓測(cè)量大容量的多層陶瓷電容，校正維修功能，減低由環(huán)境的
溫度變化影響，比測(cè)儀的設(shè)定值和測(cè)定值的同步顯示。
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3504-60 C測(cè)試儀
品牌：日本日置HIOKI
型號(hào)：3504-60
簡(jiǎn)介：3504-60 C測(cè)試儀可測(cè)量封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等，高速測(cè)量2ms，能根據(jù)C和D
（損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷，對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比側(cè)儀功能/觸發(fā)輸出功能，用BIN的分選接
口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試，查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率。
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3504-50 C測(cè)試儀
品牌：日本日置HIOKI
型號(hào)：3504-50
簡(jiǎn)介：3504-50 C測(cè)試儀可測(cè)量封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等，高速測(cè)量2ms，能根據(jù)C和D
（損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷，對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比側(cè)儀功能/觸發(fā)輸出功能，用BIN的分選接
口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試，查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率。
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3504-40 C測(cè)試儀
品牌：日本日置HIOKI
型號(hào)：3504-40
簡(jiǎn)介：3504-40 C測(cè)試儀可測(cè)量封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等，高速測(cè)量2ms，能根據(jù)C和D
（損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷，對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比側(cè)儀功能/觸發(fā)輸出功能，記錄工具，實(shí)現(xiàn)
高速/低成本的測(cè)試，查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率。
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