3506 C測試儀
品牌：日本日置HIOKI
型號：3506
簡介：C測試儀3506對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試，能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容，C 、(tanδ), Q項(xiàng)目測試，反復(fù)測量精度更高，最適合生產(chǎn)線，校正維修功能，減低由環(huán)境的溫度變
化影響，測量導(dǎo)線的過長引起的阻抗變化，阻抗補(bǔ)正功能，比測儀的設(shè)定值和測定值的同步顯示。
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3505 C測試儀
品牌：日本日置HIOKI
型號：3505
簡介：C測試儀3505對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試，反復(fù)測量精度更高，最適合生產(chǎn)線，C、
(tanδ), Q項(xiàng)目測試，能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容，校正維修功能，減低由環(huán)境的
溫度變化影響，比測儀的設(shè)定值和測定值的同步顯示。
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3504-60 C測試儀
品牌：日本日置HIOKI
型號：3504-60
簡介：3504-60 C測試儀可測量封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等，高速測量2ms，能根據(jù)C和D
（損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷，對應(yīng)測試線，比側(cè)儀功能/觸發(fā)輸出功能，用BIN的分選接
口進(jìn)行被測物體的測試，查出全機(jī)測量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率。
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3504-50 C測試儀
品牌：日本日置HIOKI
型號：3504-50
簡介：3504-50 C測試儀可測量封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等，高速測量2ms，能根據(jù)C和D
（損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷，對應(yīng)測試線，比側(cè)儀功能/觸發(fā)輸出功能，用BIN的分選接
口進(jìn)行被測物體的測試，查出全機(jī)測量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率。
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3504-40 C測試儀
品牌：日本日置HIOKI
型號：3504-40
簡介：3504-40 C測試儀可測量封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等，高速測量2ms，能根據(jù)C和D
（損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷，對應(yīng)測試線，比側(cè)儀功能/觸發(fā)輸出功能，記錄工具，實(shí)現(xiàn)
高速/低成本的測試，查出全機(jī)測量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率。
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